蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀適用于手機(jī)、平板電腦、液晶、觸控、光伏玻璃、塑料、玻璃鋼、藍(lán)寶石等材料進(jìn)行抗 彎、剪切、黃斑測(cè)試、拉伸、壓縮等的儀器。

   蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀提供使用者自由設(shè)定所需應(yīng)用的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的架構(gòu)是*開發(fā)的沒有行業(yè)使用上的限制，范圍 涵蓋金屬，非金屬，特殊材料及圖形3D變換、多筆測(cè)試結(jié)果比較圖形查看、自由變換坐標(biāo)顯示、自由縮 放各類測(cè)試曲線可對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行重新分析、重新計(jì)算、滯后環(huán)法及逐步逼近法求取非比例延伸強(qiáng)度、 荷重取點(diǎn)、位移取點(diǎn)設(shè)定、剝離區(qū)間設(shè)定等等。

   蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀采用windows工作平臺(tái)，參數(shù)設(shè)定全部以對(duì)話框的形式處理，操作簡(jiǎn)單；采用單一畫面操作，不需進(jìn)行畫面切換；軟件接口具有簡(jiǎn)體中文、繁體中文及英文三種語言，切換方便；伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)同步行星減速系統(tǒng)和高精度精密滾珠絲杠帶動(dòng)活動(dòng)橫梁上、下移動(dòng)，施加 載荷，完成各種試驗(yàn)。

   蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀微機(jī)控制采用雙柱型龍門式結(jié)構(gòu)，下部：拉伸：壓縮、彎曲。高精度精密滾珠絲杠：驅(qū)動(dòng)中橫梁上下移動(dòng)，傳遞負(fù)荷，同步齒形帶行星減速系統(tǒng)：帶動(dòng)絲杠轉(zhuǎn)動(dòng)加載。蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀根據(jù)產(chǎn)品選配不同附具后可進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲、三點(diǎn)、四點(diǎn)、彎曲強(qiáng)度、剝離、撕裂、刺破、頂破 、剪切、低周疲勞等試驗(yàn)，具有應(yīng)力、應(yīng)變、位移三種閉環(huán)控制方式，聯(lián)接電腦打印機(jī)實(shí)現(xiàn)全電腦控制并打印標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)報(bào)告。

   蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀以windows操作系統(tǒng)使試驗(yàn)數(shù)據(jù)曲線動(dòng)態(tài)顯示，試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以任意刪加，對(duì)曲線操作更加簡(jiǎn)便，輕松，隨時(shí)隨地都可以進(jìn)行曲線遍歷，疊加，分離，縮放，打印等全電子顯示監(jiān)控。蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀使用新控制技術(shù)，通過施耐德原裝交流數(shù)字控制器控制伺服電機(jī)配合同步帶使兩副高精度滾珠絲杠移動(dòng)試臺(tái)，試臺(tái)能以0.001mm/min—500mm/min速度運(yùn)行。

   蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀靈敏度高，通過位移或者大變形、或小變形測(cè)量與控板，采用20位A/D轉(zhuǎn)換單片采集系 統(tǒng)，經(jīng)微機(jī)采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)試樣的變形測(cè)量，通過數(shù)字電路實(shí)現(xiàn)橫梁測(cè)量。蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀采用D/A轉(zhuǎn)換及單片機(jī)和電腦控制系統(tǒng)施耐德全數(shù)字式交流伺服電機(jī)，連接減速機(jī)，通過同步齒輪帶帶動(dòng)高精度滾珠絲杠轉(zhuǎn)動(dòng)加荷，傳動(dòng)效率高，噪音低、傳動(dòng)平穩(wěn)，并保證速度精度在示值的±0.5%。

  蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀控制系統(tǒng)軟件采用基于windowsXP/Me/2000操作系統(tǒng)平臺(tái)，具有運(yùn)行速度快、界面友好、操作簡(jiǎn)單、可滿足不同材料的試驗(yàn)方法的需要。滿足壓縮、拉伸、彎曲、剪切、頂破、疲勞等要求。蓋板四點(diǎn)彎曲測(cè)試儀可滿足GB、ASTM、DIN、JIS等標(biāo)準(zhǔn)的要求，該軟件包有以下主要 特點(diǎn)：內(nèi)核以Access數(shù)據(jù)庫為中心，結(jié)合SQL語言，便于數(shù)據(jù)的求取，可方便地加入新的試驗(yàn)處理方法。